使用A1365线性传感器提高系统安全性 - raybet软件,raybet投注,raybet竞猜违法吗

使用带有自检诊断模式的A1365可编程线性霍尔效应传感器IC提高系统安全性

Wade Bussing，应用工程雷竞技最新网址师
雷竞技竞猜下载Allegro MicroSystems，LLC

摘要

此应用笔记提供了实现自检诊断模式的指南A1365来自All雷竞技竞猜下载egro MicroSystems，以验证应用中的系统功能和安全性。想从Allegro MicroSystems了解更多关于A1365的信雷竞技竞猜下载息，请参阅www.wasanxing.com设备数据表。

介绍

汽车安全水平的出现刺激了安全要求的增加，使IC和传感器安全功能与某些应用中的目标性能规格一样重要。雷竞技最新网址随着安全目标乘以整个系统设计过程，客户需求可用于诊断系统中异常的智能传感器。A1365的内置自检模式授予用户此类洞察力。

A1365的自检模式覆盖了整个信号路径，从模拟输出(V_出),的错将引脚输出到与霍尔换能器的连接。请参阅图1中A1365的框图，突出了绿色片上芯片测试电压的注入点。

A1365的自检模式允许用户在任何点验证模拟信号路径的连通性，静态输出电压的漂移，以及过场故障信号路径的连通性和功能。通过比较在自检模式下测量的电压和各种时间，用户还可以评估任何外部设备的完整性，包括系统adc和过流故障控制设备。自检故障功能简化了对A1365外部过流故障电路的线尾验证，无需注入大量程的负担
电流。

自检模式旨在揭示霍尔路径中的总体单点故障，但不测试霍尔传感器本身的灵敏度。

启用自检模式

在所有销售版本的A1365 IC中，自检功能是禁用的。但是，使用Allegro A1365样品编程器和ASEK评估板，测试模式很容易启用。A1365 Samples Programmer可在Allegro的软件门户网站上找到https://registration.allegromicro.com。有关收购ASEK评估套件的信息，请联系您的销售代表。

在A1365上启用自检模式，通过按“开机”按钮上电 - 设备上电［１］如图2所示的A1365样例程序员。确认设备运行正常
通过验证V_CC.,我_CC.并且使用“更新”按钮按预期读取输出值[2]。

编程器上的“内存”面板显示A1365设备上的所有可用寄存器，以及每个寄存器的功能的简要描述[3]。有关更多信息，请参阅图3。

图3：来自A1365样本程序员的存储面板 — 图3：来自的内存面板
A1365样品程序员

选择“全选”按钮[4]，然后是“阅读选定”按钮[5]，它将读入设备的内存内容，并用返回的数据填充代码和值列。在对设备内存进行任何更改之前，最好的做法是保存EEPROM内容的本地副本，以便恢复到原来的状态。选择“保存”按钮[6]为了安全起见，生成.csv或.txt文件。

要启用Self-Test模式，请参见图4。向下滚动到字段“ST_DIS”(自检禁用)[7],选择“取消选择”按钮[8]，然后仅使用复选框选择“ST_DIS”字段。通过将“0”在单元格中将“ST_DIS”代码列设置为“0”，或选择“零选择”按钮[9]在GUI上。准备就绪后，按“写入所选”按钮［10］将新值写入\ EEPROM。最好的做法是回读相同的寄存器来验证更改。选择“选择读”[11]确认“ST_DIS”位已被清除。自检模式现在已启用。

图4:自检启用从A1365样本程序设计器 — 图4：自检启用
A1365样品程序员

启动自检模式

一旦启用，自检模式可以通过拉A1365的启动的错别针低。该设备立即不进入自检模式;这的错引脚必须保持低电平超过“自检开始时间”的一段时间才能进入自检诊断模式。自检开始时间可编程，并在编程字段“ST_START_TIME”中指定。有16个代码对应12个离散的开始时间值。

自检开始时间及相应的时间延迟可用代码如表1所示。
无花果
自检开始时间由何时定义的错销电压(V_的错）低于自测阈值电压（V_Stth.）在传感器进入自检模式之前。传感器通过将模拟输出驱动到自检低压（V._STL.）.如果在自检开始时间的任何一点，传感器检测到磁输入超过编程故障阈值，自检计时器将重置。

图5中的曲线显示了v的时间_出达到V_STL.之后的错针对A1365上的所有自动测试开始时间代码被拉低。

自检故障请求时间

自检故障请求模式允许用户验证A1365上的UserProgramMed故障阈值。设备将在后面进入自检故障模式的错PIN释放的时间比自检故障请求时间长（ST_FR_TIME）。

在释放引脚后，但在自检故障请求时间到期之前，输出被驱动到自测高压（V._st）.当设备进入自检故障请求模式时
器件被驱动到饱和(V_坐（高））.

自检故障请求时间(ST_FR_TIME)及其相应延迟的可用代码如表2所示。
无花果
在自检故障模式中，A1365将驱动V_出饱和度，都是v_{坐了（h）}和V_坐（l）。当V._出通过用户编程的故障阈值（FLT_Thresh），传感器的故障引脚将断言表示故障情况。请注意，如果启用钳位，此模式会暂时禁用钳位。

自检故障脉宽时间

A1365将驾驶并保持v_出每个测试电压都是由自检故障脉冲宽度时间（st_fpw_time）定义的周期。表3列出了自检故障脉冲宽度时间及其相应的脉冲宽度时间的可用码。

无花果

完整的自检模式序列

整个自检模式序列如图6所示。自测试模式期间的施加的磁场必须为零。

在图6中，ST_START_TIME = 50 ms, ST_FR_TIME = 10 ms, ST_FPW_TIME = 10 ms。自检和磁故障设置如图7所示。

自检序列如下表所示。每一步都对应于图7中的时间点。

A1365的的错引脚被拉低，以启动自检模式。此时A1365仍然可以对磁场做出适当的反应。
在ST_START_ TIME和DRIVE V之后，该设备进入自测感测模式_出到V_STL.。
V._出仍在V_STL.直到的错PIN被释放。
V._出变成V形_st自检故障请求时间，ST_FR_TIME。
设备进入“自检故障请求”模式_出变成V形_{坐了（h）}为ST_FPW_TIME和的错销是断言。
V._出驱动到QVO for ST_FPW_TIME (10 ms)和的错密码重置。
V._出变成V形_坐（l）为ST_FPW_TIME(10毫秒)和的错销是断言。
自检序列已完成，设备返回正常操作（任务模式）。

申请案例

A1365的“自检”模式可用于验证A1365设备的总体异常和单点故障。该特性也可用于确认其他系统设备的完整性和定时，包括adc和故障控制电路。

图8中的应用程序示意图显示了这样一个系统。A1365安装在叠层铁芯的缝隙中，用于检测导体中电流产生的磁场。模拟输出，VOUT，连接到ADC的错引脚连接到微控制器上的通用I / O引脚。假设I / O连接的错引脚在过流情况下发出系统中断信号。这个中断通过断开导体中的电流来提示微控制器将系统置于安全状态。